afm可以看高度和粗糙度吗?

AFM确实能测高度和粗糙度。比如，材料表面凹凸不平，AFM针尖划过时能记录每点高度差，像扫描一张纸的褶皱。粗糙度方面，算出平均偏差，比如手机屏幕划痕深度几纳米，涂层平整度达到0.1微米以下。半导体晶圆检测时，AFM能测出台阶高度精确到原子级别，误差小于0.01纳米。

薄膜材料研究中，厚度变化从几纳米到几百纳米都能看清。生物样本如细胞膜起伏，AFM也能捕捉到纳米级的高低差。数据直观显示表面起伏程度，比如粗糙度值0.5纳米代表表面非常光滑。这些应用让AFM成为表面分析的重要工具。